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光泽度仪及涂层测厚仪

LS225涂层测厚仪 +N1500探头

发布时间:2022-12-20人气:76

便携式分体式的涡流测厚仪

测量精度高,重复性好,确保可通过计量院检测
适用于非磁性金属基体上的非导电涂层厚度检测

LS225+N1500是一款便携式分体式的涡流测厚仪,由主机LS225和非铁基探头N1500组成。仪器采用涡流感应原理,具有超高的测量精度和重复性,配上探针式的测头设计,特别适用于测量各种小尺寸工件、异形材料的涂层厚度。

LS225主机和N1500探头在测量10μm以下超薄涂层时,建议配合手压测试机架使用,这样测量更精准,更稳定。产品搭配价格如下:

序号仪器配置价格(含税)
1LS225主机¥1120
2N1500探头¥2220
3LS225主机+N1500探头¥3340
4LS225主机+N1500探头+手压测试机架¥5160

技术参数

LS225主机参数

参数名参数值
显示240×160点阵LCD
供电方式4节1.5VAAA碱性电池
工作温度范围0℃~50℃
存储温度范围-20℃~60℃
主机尺寸长148mmX宽76mmX厚26mm
重量(含电池)194g

N1500非铁基探头参数

参数名参数值
测量原理涡流感应
基体材料非铁磁性金属
测量范围0.0-1500μm
分辨率0.1μm:0μm - 99.9μm
1μm:100μm - 999μm
0.01mm:1.00mm – 1.50mm
重复性≤±(0.8%H+0.1μm)手压测试机架测试,H为标准值
测量精度±(2%H+0.3μm)五点校准,H为标准值
单位μm/mil
测量间隔0.8s(单次模式)
0.4s(连续模式)
最小测量区域Ø=7mm
最小曲率半径凸面1.5mm,凹面10mm
最小基体厚度0.05mm
用户校准支持零点校准,1点到5点校准
探头尺寸长110mm×直径15mm(不包括连线)
探头重量(含电池)81g


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