联系人:高小姐
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1. 一次测量可同时评定粗糙度及轮廓参数,显示Ra和Pt等参数;
2. 表面粗糙度评定: R参数、P参数、W参数等多参数评定;
3. 表面轮廓评定:评定任何点/线间距、两线夹角、圆弧半径、直径等几何量尺寸参量,并可对轮廓进行直线度、圆度、轮廓度、平行度、位置度、垂直度等分析,重新分析和测量的操作简洁高效;
4. 尺寸标注:半径、两圆中心距离、X/Z方向尺寸、斜边尺寸、两线夹角、圆弧最高或最低点、直线与直线相交、直线与圆弧相交、圆弧与圆弧相交、尺寸标注线大小修改、线偏移、在数据图形某点上加标记、局部轮廓放大和调平等
5. 形状误差测量:非球面形状误差测量、直线形状误差测量、弧面形状误差测量;
6. 测量记录采用集中式数据库管理,可按被测件类型、生产单位、出厂编号、检测员、送检单位、设备编号、检定日期和有效日期等查询和管理测量记录;
7. 输出多种格式报表(.doc,.docx,.xlsx,.pdf),并支持完全的自定义报表,定制测量记录报表,可批量打印记录表,具有数据备份和还原数据库功能;
8. 具有强大的CNC功能,能进行高效率的CNC结果分析功能;
9. 具备自动找拐点功能,能按照程序设置进行X轴自动找拐点;
10. 成熟简单的标定,仪器自带高精度组合标定台,可对仪器的精度和测针磨损进行精确补偿;
11. 可进行DXF(CAD)、PDF格式图纸导入,进行理论图纸与测量结果进行比对分析;特别是不规则的轮廓形状时,可以提供直观图形对比;
12. 可对多次测量的轮廓曲线匹配后进行分析测量重复性
1、 一次测量同时评定轮廓和粗糙度参数
超高精度衍射光学测量系统,具有12mm~14mm以上的大量程粗糙度测量范围,分辨率达到1nm或更高。
2、 高精度、高稳定性、高重复性:完全满足被测件测量精度要求
系统稳健的设计,保证测量的高重复性。下表为测量轴承滚道的粗糙度Ra和Pt。
重复性 | |||||
参数 次数 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 |
Ra / µm | 0.059 | 0.060 | 0.057 | 0.059 | 0.059 |
Pt / µm | 2.684 | 2.720 | 2.650 | 2.550 | 2.702 |
3、 智能化管理与先进软件分析系统
仪器操作界面友好,操作者易掌握仪器基本操作,使用十分简便。
1) 10多年积累的实用检测软件设计经验,向客户提供简洁、实用、快速的操作体验;
2) 智能化分析及记录,同批次可自动测量和分析,大幅度减少人员的操作要求及降低人员的劳动强度;
3) 测量范围广,可满足绝大多数类型的工件粗糙度轮廓测量要求;
4) 可自动和手动选取被测段进行评定,可依据客户要求进行软件功能的定制;
5) 纯中文操作软件系统,更好的为国内用户服务;
6) 可打印各种格式的检定报告,自动显示、打印、保存、查询测量记录,打印格式正规、美观;检定数据可存档,或集中打印,不占用检定操作时间;
7) 本仪器采用计算机大容量数据库储存,可自动记录保存所有检定结果。
4、 智能保护系统
仪器在各个方向都有进行硬件及软件保护,能有效的保护仪器主机及测针,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。
5、 灵活手动控制:
仪器配置了特殊分离式操作杆,操作杆在仪器操作移动时,可放置在任何位置控制操作,在测量工件前对测针进行粗定位;在脱离电脑的情况下,操作杆具备左右/上下移动测针、急停、测杆上下角度摆动及速度分多级调节功能。
6、 成熟的标定校准技术
仪器配置特殊的高精度标定台,通过简单的标定操作,能对仪器的参数进行误差补偿,对测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。
型号 | SJ5730-100 | ||
轮廓参数 | 测量范围 | X轴 | 0~100mm |
Z轴 | 0~300mm | ||
Z1轴 | ±7mm(标准配置L85mm测杆) (±8mm:L95mm测杆可选) (±10mm:L110mm测杆可选) | ||
分辨率 | X轴/Z1轴 | 最高0.1nm | |
测量 精度 | 角度精度 | ≤1’ | |
Z1轴轮廓精度 | ≤±(0.5+0.06H)μm | ||
标准圆弧Pt精度 | Pt≤±0.3µm | ||
标准球测量误差 | ≤±(1+R/20)μm | ||
移动速度 | X轴 | 0~20mm/s | |
Z轴 | 0~20mm/s | ||
扫描速度(扫描轴) | 0.05~5mm/s | ||
直线度(扫描轴) | ≤0.2μm/50mm,≤0.3μm/100mm | ||
测量力 | 约3~4mN | ||
爬坡能力 | 上坡77º,下坡88º | ||
粗糙度参数 | 适用Ra测量范围 | Ra0.05μm~Ra12.5μm | |
示值误差 | Ra: ≤±(4nm+2.0%A)(A:测量Ra标称值) | ||
重复性(1δ) | 1δ≤1nm(0.1-0.2μm方波粗糙度样块、标准台阶块) | ||
残值噪声 | ≤3nm | ||
测量参数 | R粗糙度: Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc, Rmr 核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo P轮廓参数:Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq, Pdc, PPc,Pmr, W波度轮廓参数: Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL | ||
滤波器 | 高斯滤波器、2RC滤波器,相位修正滤波器 | ||
滤波长度 | 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可选 | ||
滤波长度 | λc×3、4、5、6、7、8可选 | ||
仪器尺寸(长×宽×高) | 600×350×850(mm) | ||
仪器总重量 | 约95Kg |
管理员
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